Schutzrechte
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Anordnung und Verfahren zur Wellenlängenkalibration bei einem Echelle-Spektrometer
EP-Patent: EP1472512
(validiert in Großbritannien, Schweden, Schweiz, Frankreich und Deutschland)
US-Patent: US7215422
AU-Patent: AU2003210190
CN-Patent: ZL03803518.9
JP-Patent: JP4534487B2 -
Anordnung zur Erfassung von Reflexions-Anisotropie
EP-Patent: EP3035034
(erteilt und validiert in Deutschland) -
Detektor für die kernmagnetische Resonanzspektroskopie »Mehrfachresonanzkopf mit Hilfsinduktivität«
DE-Patent: DE102014115572
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Echelle-Spektrometer mit verbesserter Detektorausnutzung »Aryelle«
EP-Patent: EP1754032
(erteilt und validiert in Großbritannien, Frankreich, Österreich und Deutschland)
US-Patent: US7804593
AU-Patent: AU2005252809
CN-Patent: CN101014841 -
Probenkopf für die kernmagnetische Resonanzspektroskopie »Doppelresonanz-Probenkopf auf Mikrostreifenleiterbasis für die kernmagnetische Resonanzspektroskopie an massen- und volumenbegrenzten Proben«
DE-Patent: DE102014107296
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Probenkopf für die kernmagnetische Resonanzspektroskopie »Mikrostreifenleiter Probenkopf mit dreiecksförmiger Einschnürung«
EP-Patent: EP3350610
(validiert in Deutschland) -
Probenkopf für die kernmagnetische Resonanzspektroskopie »Mikrostreifenleiter-Probenkopf zur Erzeugung von Gradienten des äußeren Magnetfeldes in kernresonanzspektroskopischen Messungen«
DE-Patent: DE102015115996
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Spektrometer
DE-Patentanmeldung: DE102016110210
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Spektrometeranordnung »SuZee«
EP-Patent: EP2516975
(validiert in Großbritannien, Frankreich und Deutschland)
US-Patent: US8873048
CN-Patent: CN102656431