Die polarisationsabhängige IR-Spektroskopie und Ellipsometrie sind besonders geeignet für die Untersuchung von neuen Materialien, Metamaterialien, Hybridmaterialien sowie dünnen organischen und anorganischen Schichten mit Dicken von einigen Mikrometern bis hin zu einer Monolage. Sie ermöglichen die Bestimmung optischer Konstanten und Schichtdicken und liefern zum Beispiel detaillierte Informationen über die chemische Struktur und Molekülorientierungen in Polymeren oder zu Dotierungseigenschaften von leitfähigen Polymerfilmen und der dielektrischen Funktion von Graphen. Wir untersuchen derzeit vor allem Modifikationen und Wachstum an der Fest-Flüssig-Grenzfläche, führen aber auch mikroskopische Messungen durch, vor allem an funktionalen Filmen und Oberflächen sowie Schichten aus Polymeren und Proteinen.
