Forschung
VIS VUV Ellipsometrie

Im sichtbaren, ultravioletten bis zum vakuum-ultravioletten Spektralbereich bestimmen elektronische Anregungen die optischen Eigenschaften von Molekülen und Festkörpern.
Da diese Anregungen direkt mit der Struktur verknüpft sind, haben die Spektren im genannten Spektralbereich Fingerprint-Charakter für die atomare Struktur von Molekülschichten und Grenzflächen. Als Anregungsquelle dient dazu die Synchrotronstrahlung bei BESSY II. Das ISAS Berlin betreibt ein Synchrotron Ellipsometer bei BESSY im Spektralbereich von 2.5 eV (500 nm) bis 35 eV (34 nm) in Kooperation mit 16 weiteren Forschungsgruppen.
Von besonderem Interesse sind Molekül-Festkörpergrenzflächen und Nanostrukturen bis in den Submonolagenbereich. Die komplexe Beziehung zwischen optischen Eigenschaften und der atomaren Struktur bietet eine umfangreiche Basis für die Bestimmung analytischer Information. Durch die Aufnahme von Spektren an ausgewählten molekülterminierten prototypischen Oberflächen wird deren Abhängigkeit zur atomaren Struktur untersucht. Dabei findet eine enge Kooperation mit Arbeitsgruppen statt, die an der Modellinterpretation dieser Problematik arbeiten.
Publikationen:
Schmidt, W.G.; Fuchs, F.; Hermann, A.; Seino, K.; Bechstedt, F.; Passmann, R.; Wahl, M.; Gensch, M.; Hinrichs, K.; Esser, N.; Wang, S.; Lu, W.; Bernholc, J.:
Oxidation and Organic Molecule induced Changes of the Si Surface Optical Anisotropy: Ab initio Predictions
J.Phys.: Condens. Matter 16, 4323 (2004)
Goldhahn, R.; Winzer, A.T.; Cimalla, V.; Ambacher, O.; Cobet, C.; Richter, W.; Esser, N.; Furthmüller, J.; Bechstedt, F.; Lu, H.; Schaff, W.J.:
Anisotropy of the Dielectric Function for Wurtzite InN
Superlattices and Microstruc. 36, 591 (2004)
Rakel, M.; Cobet, C.; Goldhahn, R.; Richter, W.; Esser, N.:
VUV-XUV Dielectric Function of InN
BESSY - Jahresbericht 2004
PDF (Volume: 248 KB)
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