Forschung
Röntgenfluoreszenz unter streifendem Einfall
Röntgenfluoreszenz unter streifendem Einfall
Synchrotronstrahlung bietet ein breites Spektrum an Einsatzmöglichkeiten im Bereich der Material- und Grenzflächenanalytik. Insbesondere Röntgenstrahlen unter streifendem Einfall sind ideal geeignet zur Untersuchung von grenzflächenbezogenen Prozessen, da Experimente mit hoher Oberflächensensitivität durchgeführt werden können. Die Kombination aus Röntgenfluoreszenz-Messungen (XRF) mit der Geometrie des streifenden Einfalls ist bereits erfolgreich bei der Charakterisierung verschiedener Grenzflächentypen angewandt worden. Die besonderen Vorzüge von Synchrotronstrahlung (hohe Kohärenz, durchstimmbare Wellenlänge, niedrige Divergenz) erlauben die Messung von Atom- oder Ionenvertelungen an einer Vielzahl von Grenzflächen mit einer Auflösung im Bereich von Nanometern. So konnte beispielsweise in Polymerschichten, die zur Entwicklung organischer Leuchtdioden (LEDs) eingesetzt werden, die Verteilung von Elementen gemessen werden, so wie die Zusammensetzung der Elektrischen Doppelschicht über geladenen fest-flüssig-Grenzflächen. Die Versuche werden an der Synchrotronstrahlungsquelle DELTA an der TU Dortmund durchgeführt, wo das ISAS auch eine Röntgenbeamline für Grenzflächenuntersuchungen unter streifendem Strahlungseinfall entwickelt und betreibt.







